集成电路功能测试类型（集成电路功能测试类型包括）

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功能性测试。使用黑盒测试技术针对被测模块的接口规格说明进行测试。非功能性测试。对模块的性能或可靠性进行测试。另外，集成测试的必要性还在于一些模块虽然能够单独地工作，但并不能保证连接起来也能正常工作。

(2)在线测量法。在线测量法是利用电压测量法、电阻测量法及电流测量法等，通过在电路上测量集成电路的各引脚电压值、电阻值和电流值是否正常来判断该集成电路是否损坏。(3)代换法。

集成电路常用的检测方法有在线测量法、非在线测量法和代换法。

看你的产品可靠性要求的。一般民品就做电气性能测试和高低温测试。军品及以上等级的测试就复杂了，分为环境性能测试、机械性能测试和电气特性测试三大类，几百小类。宇航级的产品还要加抗辐射性能测试。

测试仪表内阻要大测量集成电路引脚直流电压时，应选用表头内阻大于20KΩ/V的万用表，否则对某些引脚电压会有较大的测量误差。

SSI(小规模集成电路)SSI是指由数十个晶体管或更少数量的晶体管组成的集成电路，主要用于制作简单的逻辑门电路，如与门、或门等。

锗二极管的正向电阻很小，正向导通电压约为0.15~0.35V，但反向漏电流大，温度稳定性较差；硅二极管的反向漏电流比锗二极管小得多，缺点是需要较高的正向电压（0.5~0.7V）才能导通，只适用于信号较强的电路。

电阻、电容和电感电阻、电容和电感是电路中最基本的三种元件。面试官通常都会问到这三个元件的基础知识。电阻是电路中最简单、最基本的元件之一，它的主要作用是阻止电流的流动。

1、测试仪表内阻要大测量集成电路引脚直流电压时，应选用表头内阻大于20KΩ/V的万用表，否则对某些引脚电压会有较大的测量误差。

2、在线检测：要断开待测电路板上的电源，万能表内部电压不得大于6V ，测量时，要注意外围的影响。如与IC芯片相连的电位器等。交流工作电压：用带有dB档的万能表，对IC进行交流电压近似值的测量。

3、集成电路常用的检测方法有在线测量法、非在线测量法和代换法。

1、旗下往往包含有多种多样的分类，比如接地电阻测试仪、绝缘电阻测试仪、接地电阻测试仪等等，不同的产品在细节设计、对应的场景以及适合的人群方面会有一些区别。

2、ASA(VI)曲线测试时，模拟通道负责把模拟测试信号送到器件不同管脚，从而支持使用测试夹、测试适配器，在数秒、数十秒钟内测试成百上千条曲线，大大提高测试效率。没有模拟通道的测试仪，只能用探棒逐脚测试。

3、数字集成电路（Digital Integrated Circuit，简称DIC）：由数字电路组成，主要用于数字信号处理、计算机控制等领域。数字集成电路包括逻辑门电路、计数器、寄存器、存储器等。

4、（一）按功能结构分类集成电路按其功能、结构的不同，可以分为模拟集成电路和数字集成电路两大类。模拟集成电路用来产生、放大和处理各种模拟信号（指幅度随时间边疆变化的信号。

wefer test辅助设备：无尘室及其全套设备。wefer test是效率最高的测试，因为一个晶圆上常常有几百个到几千个甚至上万个芯片，而这所有芯片可以在测试平台上一次性检测。

集成电路光学薄膜检测设备主要是通过光学方法测量薄膜的厚度，其功能和用途主要有以下几点： **厚度测量**：该设备主要用于测量半导体硅片上薄膜的厚度。通过光的反射、干涉和吸收等特性，计算薄膜的厚度。

红外热像仪具有非接触测温、反应速度快、温度数据可分析等优势，是电路检测维修的重要工具。常见的电路板故障一般为短路、断路或者接触不良，大多数设备故障与发热温升紧密相连，温度异常往往预示着设备处于异常状态。

从实用的角度看，我依据个人经验，建议备一台“晶体管特性图示仪”，可以测一下各引脚对地的击穿特性，如果有哪个引脚对地有漏电，可以断定这个集成块的质量不好。另外，一个常用的办法是进行功能测试。

1、直流电压测量、直流电流测量、电阻测量。直流电压（DCVoltage）测量：直流表可以用来测量电路中的直流电压，例如测量电池的电压、电源输出电压等。

2、全电压恒流充电方法恒压源、恒流源和控制电路可以大大减少充电时间，准确快速地测量绕组DC电阻。直流电阻测试仪内部装有恒压恒流源。

3、直流电机要做的检测项目：直流电阻、绝缘电阻、电气强度、空载测试，匝间波形，堵转试验（客户要求）。

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