本篇目录：
- 1、测试D触发器的逻辑功能(74LS74)
- 2、逻辑测试
- 3、ttl、cmos集成逻辑门的逻辑功能和参数测试实验的步骤
- 4、用函数发生器测试门电路好坏的基本方法
- 5、如何用最简单的方法验证“与或非”门的逻辑功能是否完整?
- 6、门电路逻辑功能及测试实验原理
测试D触发器的逻辑功能(74LS74)
1、D触发器的逻辑功能：Qn+1=D。D触发器是一个具有记忆功能的，具有两个稳定状态的信息存储器件，是构成多种时序电路的最基本逻辑单元，也是数字逻辑电路中一种重要的单元电路。在数字系统和计算机中有着广泛的应用。
2、在ttl电路中，比较典型的d触发电路有74ls74。74ls74是边缘触发数字电路设备，每个设备包括两个相同、独立的边缘触发d触发电路模块。d触发器的次级状态取决于触发前d端的状态，即次级状态=D。因此，它具有0、置1两种功能。
3、LS74是一个D触发器，触发器具有两个稳定状态，即0和1，在一定的外界信号作用下，可以从一个稳定状态翻转到另一个稳定状态。分频用同一个时钟信号通过一定的电路结构转变成不同频率的时钟信号。
4、LS74为D触发器可直接使用实验台上数字电路实验区的D触发器，74LS138为地址译码器。译码输出端Y0～Y7在实验台上I/O地址输出端引出，每个输出端包含8个地址，Y0：280H～287H，Y1：288H～28FH。
5、给74LS74D中两个D触发器的PRCLR1和PRCLR2都接入高电平，才可以正常使用D触发器的功能。当需要使用置位功能时，直接给PRPR2接入低电平（0v）即可。
6、LS74是一个双D触发器，可以用来设计二位二进制加法计数器。二进制加法计数设计如下：原理：74LS74为双D触发器，即带有两个D触发器，令其各为一个计数器，再将其串联即可形成一个加法金属器。LS74是双D触发器。
逻辑测试
猜拳往往难分输赢，于是小张发明了这种玩法：把石头去掉，你出剪子对布算你赢，平局算他赢。
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测试逻辑思维能力 大象是动物，动物有腿，因此 (1)大象有腿。我的秘书还未到参加选民选举的年龄。我的秘书有着漂亮的头发。所以 (1)我的秘书是个未满21周岁的姑娘。
测试实验原理：组合逻辑电路的输出只由输入决定；通过真值表和电路图的比较可以看出无论是真值表还是逻辑门电路都可以很好的表示电路输入与输出的关系。
接着请按照以下的公式计算一下你的测验分数(S)。S=(R-M)5+105 测试结果 75分以下： 恐怕你得努力学习了，或许可以通过类似以上的训练来提高自己的逻辑推理能力。80～110分： 你的逻辑推理能力处于中等水平。
所有的A都有三只眼睛，这个B有三只眼睛，所以，这个B与A是一样的。土豆比西红柿便宜，我的钱不够买两磅土豆。所以，我的钱不够买一磅西红柿。我的钱可能够，也可能不够买一磅西红柿。
ttl、cmos集成逻辑门的逻辑功能和参数测试实验的步骤
首先，找一个门电路的集成芯片，比如CD4093，与非门芯片。用5V电压供电，5V代表1--高电平；GND代表0--低电平。可见，门电路的开关速度可得到改善。
实验一基本门电路的逻辑功能测试实验目的测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。了解测试的方法与测试的原理。
【相关知识】：TTL与非门和复合TTL逻辑门、CMOS反相器、传输门以及复合CMOS逻辑门。【解题方法】：解题方法和步骤：①首先将电路划分为若干个基本功能结构模块。
用函数发生器测试门电路好坏的基本方法
1、通过将函数发生器产生的电波与被测电路或系统连接，就可以用于各种电子测试和测量应用。
2、顺时针调节AMPL幅度调节旋钮，增大电压输出幅度。逆时针调节此旋钮可减小电压输出幅度。函数信号发生器主要由信号产生电路、信号放大电路等部分组成。可输出正弦波、方波、三角波三种信号波形。
3、若由“+”和“-”两端输出（即“-”或“+”一端接地，另一端输出），则输出信号的幅度（峰值）是函发面板的设置值2倍。
4、数字电路中1代表高电平0代表低电平），而模拟电路的输入输出则是连续而复杂变化的电信号，因此在判断门电路时只要根据该电路内部功能（通过看其真值表或逻辑表达式）测量其输入输出高低电平变化的对应关系就可以判断了。
5、的地方：这个应该是示波器的信号输入口吧，也是个BNC口，MAX应该是说最大允许输入电压值。然后红夹子接在左下角那个金属片上：这个应该是示波器自带的探头校准信号输出的地方，通常是输出1KHz方波，调试探头电容用的。
6、：信号发生器输出的方波占空比为50%，要改变这个占空比，采用后一种途径，即用PWM控制器输出的信号直接控制BUCK变换器，而在保持导通时间不变的情况下将其信号进行二分频，得到占空比减半的信号来控制单端反激变换器。
如何用最简单的方法验证“与或非”门的逻辑功能是否完整?
或非门：只有当两个输入A和B为低电平（逻辑0）时输出为高电平（逻辑1）。也可以理解为任意输入为高电平（逻辑1），输出为低电平（逻辑0）。
(1)按照门电路功能，根据输入和输出，列出真值表。(2)按真值表输入电平，查看输出是否符合真值表。(3)所有真值表输入状态时，输出都是符合真值表，则门电路功能正常；否则门电路功能不正常。
分别在两个输入端加高低电平（用开关接电源或地），再看输出端电平（电表测高或低），满足与非门功能就说明是好的，否则就可能是坏的。
门电路逻辑功能及测试实验原理
1、基本逻辑门电路实验原理介绍如下：基本逻辑门电路是组成数字电路的基础单元，实现各种复杂的逻辑功能。常见的逻辑门有与、或、非等类型。例如，CMOS非门、与非门、或非门、与门和或门都是基本的逻辑门电路。
2、常规门电路，输出依输入出0或1。OC门电路，原理为：集电极开路，使用时要外接上拉电阻，可用于线与。三态门电路，原理为：设有选中控制端端，没被选中的话输出高阻态，相当于未接入线路，用于总线数据传送。
3、根据表达式可以得知其工作原理：先对A和B输入变量进行与运算得到结果x，再将得到的结果x进行取反，最终结果为x的反变量，得到输出结果Y。
到此，以上就是小编对于逻辑电路功能测试的问题就介绍到这了，希望介绍的几点解答对大家有用，有任何问题和不懂的，欢迎各位老师在评论区讨论，给我留言。
